本文標(biāo)題："測(cè)量工件表面粗糙度和機(jī)械幾何圖形測(cè)量顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2015-7-14 14:46:23
測(cè)量工件表面表面粗糙度儀和機(jī)械幾何圖形測(cè)量顯微鏡
針描方法
用手指或指甲觸摸表面而發(fā)展到用針描方法，這種方法是用一鉆
石針尖沿著一條超級(jí)來(lái)探測(cè)表面，從三維表面記錄下二維的輪廓截
面作粗糙度測(cè)量，觸針把測(cè)得的形狀偏差變成電信號(hào)再進(jìn)一步處理
，這種測(cè)量?jī)x器稱作電針描式儀器。
測(cè)量工件表面粗糙度和幾何圖形方法的適用性正在研究中對(duì)于簡(jiǎn)
單的表面已得到了和機(jī)械法測(cè)量相一致的結(jié)果，下一步是要修正由
更復(fù)雜表面所得到的結(jié)果；如車(chē)削、磨削和研磨的表面粗糙度，完
成了這一點(diǎn)，儀器量程便從現(xiàn)在的10μm擴(kuò)展到1mm更大，這將極大
地提高它的使用性能。
顯微鏡還存在由于儀器目前的結(jié)構(gòu)所強(qiáng)加的某些限制，例如它不
能用于測(cè)量小孔且需移動(dòng)工件，在那些用接觸法不合適的場(chǎng)合，這
種類型的儀器將會(huì)有很多用途，同時(shí)不可用于標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室代替機(jī)械
儀器。
我們近年來(lái)使用的干涉顯微鏡，它利用剪切法不但能作一般干涉
測(cè)量和微分干涉觀察，而且還能對(duì)微小樣品作干涉相應(yīng)差測(cè)量，是
一種應(yīng)用范圍很廣的儀器。
這里所說(shuō)的利用剪切法作一般干涉測(cè)量，是把兩支光路過(guò)來(lái)的象
，完全分離并使它們產(chǎn)生干涉的方法，而微分干涉是利用分辨率以
下的剪切重疊干涉的方法。
后一篇文章：精鍛、精鑄機(jī)械加工電感量?jī)x測(cè)量工具顯微鏡 »
前一篇文章：« 機(jī)械杠桿的測(cè)量在測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用-測(cè)量顯微鏡
tags:材料學(xué),技術(shù),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
測(cè)量工件表面粗糙度和機(jī)械幾何圖形測(cè)量顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/2673.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/